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低温(wēn)高湿试验箱

名(míng)称:低温高湿试验箱 型号(hào): ITM-LHC-408L 产品用(yòng)途:针(zhēn)对(duì)产品在低(dī)温低湿、高(gāo)温低(dī)湿、高温(wēn)高湿降到低温低湿..等环境下(xià)是否会(huì)发生龟(guī)裂、破损,另外在低湿环(huán)境下空气静电(diàn)量数(shù)倍于一般环境,据悉大部分电子零(líng)部件损坏是由静电(diàn)所引起的。
低温高湿试验箱
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低温高湿(shī)试验箱
适用范围:
低(dī)温高(gāo)湿试验箱可模拟产品在(zài)一般气候环(huán)境(jìng)温湿组合(hé)条件下(高(gāo)低温操作&储存、温度循环、高温高湿、结露试验)的测(cè)试去(qù)检测产品本身的(de)适应能力(lì)与(yǔ)特性是(shì)否改(gǎi)变(biàn),更可以针对产(chǎn)品在低(dī)温低湿、高温低湿、高温高湿降到低温低湿..等(děng)环境下是否会发生龟裂、破(pò)损,另外在低湿(shī)环境下空气静电(diàn)量(liàng)数倍(bèi)于一般环境,据悉大部分电子零部件损坏是由静电所(suǒ)引起的(de)。


试品(pǐn)限(xiàn)制:
A)易燃、爆炸、易挥发性(xìng)物质试样的试验及(jí)储存;
B)腐蚀性(xìng)物(wù)质试样的(de)试(shì)验及储存生(shēng)物试(shì)样(yàng)的试验或储存;
C)强电磁发射源试样的(de)试验及储存;


容积和(hé)尺寸:
有(yǒu)效容积:408L;
内(nèi)箱(xiāng)尺寸:W800xH850xD600mm;
测试(shì)箱外箱尺寸:W1000xH1950xD1900mm(依(yī)实物为准);


温湿试验箱性(xìng)能(néng)介绍(shào):
湿度范围:5-98%;
湿(shī)度(dù)分(fèn)布均匀度:±5%RH(中(zhōng)心点);
温度分(fèn)布均匀度:±1℃(-40℃~100℃)/ ±1.5℃(
-40.0℃~-70℃,100.0℃~150℃)
温度(dù)稳(wěn)定度:±0.2℃;
湿度稳定度:±2%RH;
温度分辨率:±0.01℃;
湿度(dù)分(fèn)辨率:±1%
升温时间:从25℃升(shēng)至150℃需45分钟,全程平均非线性(xìng),空载;
降温时间:从20℃降至-40℃ 50分钟,全程平均非(fēi)线性,空载;


满足试验标准:
GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1:2007)低温(wēn)试验方法;
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高(gāo)温试验方法;
GJB150.3-1986 高(gāo)温试验;
CJB150..4-1986低(dī)温试验;
GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2007)试(shì)验Cab:恒定湿热(rè)试验方法;
GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005)试(shì)验Db:交变湿热(rè)试验方(fāng)法;
GB/T2423.34-2005试验Z/AD:温湿组(zǔ)合;


温(wēn)湿度区域示意图:


试验条件:

  • 5%RH:10℃/5%RH 、20℃/5%RH、50℃/5%RH;
  • 10%RH:10℃/10%RH、15℃/10%RH、25℃/10%RH、30℃/10%RH、65℃/10%RH;
  • 15%RH:10℃/15%RH;
  • 20%RH:20℃/20%RH、85℃/20%RH、75℃/20%RH、65℃/20%RH;
  • 40%RH:25℃/40%RH;
  • 90%RH:65℃/90%RH;

售后服务:
1.免费为客户培训操作人员和维护人(rén)员(地点在本公司(sī)或客户所(suǒ)在(zài)地);
2.高低温箱、冷热冲击箱、温湿试验箱整机保修期:壹年;
3.完整的维修服务团队,提(tí)供最迅速及专业的维修服务(国内维修12HR回复(fù),24HR到厂,问题排除);

新闻动态

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  4. 恒温恒湿试验箱可以模拟哪些环境条件

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  5. 高(gāo)低温试验机(jī)的温度控制(zhì)精度达到多少?

    导读:高低温试验(yàn)机(jī)的温度控(kòng)制精度(dù)是衡(héng)量其性能的重要指标之一,直接关系到试验结果的准确性和可靠性。一般来说,高低温(wēn)试(shì)验机(jī)的温(wēn)度控制精(jīng)度可(kě)以(yǐ)达到±0.5℃左右,但(dàn)这一数值并非绝对,实际应用中会受到多种(zhǒng)因素的影响而有所变化。

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